数字集成电路多值逻辑测试仪
◆利用的多值比较法对器件进行快
速的参数和功能综合测试。◆ 用户可按不
同的要求测试模式，对器件进行直
流参数测试。以区IC品质，快速选。
实用。经该产品测试过的器件，可
以放心地机使用，解决产品质量
问题。◆数字IC功能参数测试仪。操
作简便，测试成本低廉，实用。
产品主要性能:
在功能测试的基础
测试器件的输人端注人电流。
测试器件的输人端交叉漏电流。
测试器件的输出端“三态”及“OC"门。
测试器件的输出负载电流。
测试器件的功耗电流。
查找未知芯片型号。
可以单次测试，也可以循环测试.
可自动识别74系列中的CMO器件
(如: 74C、74HC、74HCT等)。
当被测芯片被确认为74系列CMO器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一一个“C”字(此时被测器件电
源为TTL电源)。
本产品所提供的多值测试参数:
8种可的测试电源。
根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。
多种测试电压比较值。
功耗测试。
以参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及组合测试模式。
测试模式:
模式O:组合参数测试。
模式1-C:操作与模式0相同，但各有其不同的测试参数数值。
模式D:任选输人负载电流及测试电源和输人电流测试。
模式E:自检。内容包括计算机部，显示、键盘及测试管脚电路。
模式F:自编程测试。
测试范及测试品种:
54系列; 4500 系列;
RAM 256K bit
74系列; 40000 系列:
EPROM 64K bit
4000系列: C0O系列。
光耦
目前市场所见到的某些功能测试仪无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74L373与74L374、74L352、
74L353、74L125 与74L32及OC门与图腾柱输出]等功能性能特性完不致的器件混为一类。 这种仪器实用价值很低，
用仪器测试通过后，有时机却不能正常使用。本产品不会发生类似错误。
该产品适合器件厂、整机厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、、IC 经销商使用。它是科技工程
技术人员开发新产品的得力工具。
