真空镀膜，膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
采用进品高元件制作和DAA是数字频谱析系统测试，确保仪器具有的质量和优越的性能。
高稳定性。操作简便，实用性强
技术参数：
GM-X03
主信号通道：电压单端输入
满程灵敏度：0.5mV~500mV
频率范：1KHz,±5%
锁相噪声：≦4nV
线性误差：≦1%
零点漂移：0.2%（小时）
参考信号通道：电压单端输入
输入幅度：20mV~700mV
频率范：1KHz,±5%
相位锁定范：≧320°
电源电压：220VAC/50Hz
外形尺寸：宽482x高89x深322（mm）/准2U面板
净重：7.5Kg
